Wafer Safir Kandel Diaméter 300x1.0mmt C-Plane SSP/DSP
Ngawanohkeun kotak wafer
| Bahan Kristal | 99,999% Al2O3, Kamurnian Luhur, Monokristalin, Al2O3 | |||
| Kualitas kristal | Inklusi, tanda blok, kembar, Warna, gelembung mikro sareng pusat panyebaran teu aya. | |||
| Diaméter | 2 inci | 3 inci | 4 inci | 6 inci ~ 12 inci |
| 50,8± 0,1mm | 76.2±0.2mm | 100±0.3mm | Saluyu sareng katangtuan produksi standar | |
| Kandel | 430±15µm | 550±15µm | 650±20µm | Bisa disaluyukeun ku konsumén |
| Orientasi | Bidang C (0001) ka bidang M (1-100) atanapi bidang A (1 1-2 0) 0.2±0.1° /0.3±0.1°, bidang R (1-1 0 2), bidang A (1 1-2 0), bidang M (1-1 0 0), Orientasi Naon Wae, Sudut Naon Wae | |||
| Panjang datar primér | 16.0±1mm | 22.0±1.0mm | 32,5±1,5 mm | Saluyu sareng katangtuan produksi standar |
| Orientasi datar primér | Bidang-A (1 1-2 0) ± 0.2° | |||
| TTV | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
| LTV | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
| TIR | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
| GUNUNG | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
| Bengkok | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
| Beungeut Hareup | Dipoles Epi (Ra< 0.2nm) | |||
*Busur: Déviasi titik tengah permukaan median wafer bébas anu teu dijepit tina bidang rujukan, dimana bidang rujukan ditetepkeun ku tilu juru segitiga sama sisi.
*Lungkup: Bédana antara jarak maksimum sareng minimum permukaan median wafer bébas anu henteu dijepit tina bidang rujukan anu ditetepkeun di luhur.
Produk sareng jasa kualitas luhur pikeun alat semikonduktor generasi salajengna sareng kamekaran epitaksial:
Tingkat kerataan anu luhur (TTV anu dikontrol, busur, lungsin, jsb.)
Pabersihan kualitas luhur (kontaminasi partikel rendah, kontaminasi logam rendah)
Pangeboran substrat, alur, motong, sareng poles sisi tukang
Lampiran data sapertos kabersihan sareng bentuk substrat (opsional)
Upami anjeun peryogi substrat safir, mangga ngahubungi:
surateric@xkh-semitech.com+86 158 0194 2596 /doris@xkh-semitech.com+86 187 0175 6522
Kami bakal ngahubungi anjeun pas mungkin!
Diagram Lengkep





